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激光測(cè)量設(shè)備

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表面增強(qiáng)拉曼散射SERS襯底/基底
昊量光電新推出用于超靈敏分子檢測(cè)用的表面增強(qiáng)拉曼散射SERS襯底/基底SERStrate ，實(shí)現(xiàn)低至 pm濃度的超靈敏分子檢測(cè)。能夠?qū)纳茖W(xué)到軍事應(yīng)用的各種分子進(jìn)行痕量檢測(cè)。大多數(shù)器件制造技術(shù)涉及聚合物掩膜沉積（某種形式的光刻）或復(fù)雜的化學(xué)，這大大增加了器件制造成本。

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447nm/671nm/1342nm 納秒脈沖固體激光器
447nm/671nm/1342nm 納秒脈沖固體激光器，IDOL 系列產(chǎn)生特殊的1342nm 波長(zhǎng)及其倍頻（671nm）、三倍頻（447nm），其中1342nm 特別適合硅材料處理如隱形劃片、集成電路修剪，而671nm、447nm則在顯示平板修補(bǔ)領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。

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213/224 深紫外納秒激光器（IMPRESS 系列）
213/224 深紫外納秒激光器（IMPRESS 系列），可用于FBG 刻蝕、鉆石及藍(lán)寶石打標(biāo)加工等應(yīng)用，213nm 波長(zhǎng)及TEM00 模式使它可以用于小于微米的直寫加工。

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193nmDUV深紫外單縱模固體激光器
193nmDUV深紫外單縱模固體激光器，光譜帶寬接近其理論傅立葉極限。該193nm激光器的中心波長(zhǎng)可在185和194 nm之間的范圍內(nèi)定制，訂購(gòu)時(shí)可配置為固定波長(zhǎng)。

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VFI 光纖端面干涉儀
VFI 光纖端面干涉儀可測(cè)量大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)和特種光纖，包括保偏光纖和空芯光纖。VFI 光纖端面干涉儀在研究、生產(chǎn)和質(zhì)量保證領(lǐng)域已得到反復(fù)驗(yàn)證。

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單周期超短脈沖測(cè)量?jī)x（d-cycle）
單周期超短脈沖測(cè)量?jī)x（d-cycle）是實(shí)現(xiàn)快速且精確測(cè)量超短脈沖的優(yōu)先方案,尤其是針對(duì)苛刻的超短脈沖光源，如超寬帶光譜和單周期（single-cycle）的脈沖,也是目前可測(cè)量shortest pulse 的商業(yè)化測(cè)量?jī)x器。d-cycle靈活且獨(dú)立的設(shè)計(jì)架構(gòu)能夠測(cè)量各種超短脈沖光源，比如寬帶振蕩器,放大器

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高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測(cè)量?jī)x
高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測(cè)量?jī)x獨(dú)特亮點(diǎn)在于可選配用于外部原位測(cè)量的非接觸式光纖探頭，實(shí)現(xiàn)對(duì)定制容器、反應(yīng)器內(nèi)部或預(yù)灌封注射器等場(chǎng)景的直接無(wú)損監(jiān)測(cè)，避免了分批處理，集成了粒度、Zeta 電位和遠(yuǎn)程測(cè)量這“三合一解決方案”。

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FP標(biāo)準(zhǔn)具
昊量光電代理的FP標(biāo)準(zhǔn)具旨在根據(jù)用戶的需求設(shè)計(jì)蕞符合客戶需求的產(chǎn)品，您只需提供簡(jiǎn)單的參數(shù)要求，就可以預(yù)先獲得工程師設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)具設(shè)計(jì)方案進(jìn)行確認(rèn)，所有的標(biāo)準(zhǔn)具都被設(shè)計(jì)安裝在一個(gè)彈性單元內(nèi)，可以提供蕞大程度的保護(hù)。

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單發(fā)超短脈沖測(cè)量?jī)x（d-shot）
d-shot 是基于色散掃描技術(shù)（D-scan）開發(fā)的一款超短脈沖測(cè)量?jī)x。d-shot 適用于寬光譜超短激光的測(cè)量,支持重頻single shot至MHz。使用方便,將光束耦合到 d-shot 只需幾分鐘時(shí)間,能夠進(jìn)行實(shí)時(shí)、流暢的測(cè)量。單發(fā)超短脈沖測(cè)量?jī)x（d-shot）

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光熱測(cè)量系統(tǒng)（光學(xué)弱吸收）
光熱測(cè)量系統(tǒng)（光學(xué)弱吸收）主要用途是對(duì)不同光學(xué)元件（如鍍膜、基底、晶體、界面等）的吸收特性進(jìn)行表征。該裝置采用泵浦-探測(cè)方式，基于熱透鏡效應(yīng)，吸收測(cè)試在“泵浦”激光的波長(zhǎng)下進(jìn)行。為提高靈敏度，泵浦光經(jīng)斬波調(diào)制，以實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)樣品的周期性加熱。探測(cè)光束感知被吸收的泵浦光所引起的加熱效應(yīng)。

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雙頻激光干涉儀
雙頻激光干涉儀HPI-3D是市場(chǎng)上的高性能激光干涉儀之一。作為雙頻外差系統(tǒng)，它的測(cè)量精度和分辨率為用戶提供了大量新的選擇。非常容易使用，它既可以應(yīng)用于研究實(shí)驗(yàn)室，也可以用于機(jī)器幾何測(cè)量。精確的機(jī)器校準(zhǔn)對(duì)于提供高質(zhì)量的產(chǎn)品至關(guān)重要。使用我們的系統(tǒng)，您可以快速、輕松地進(jìn)行精確的校準(zhǔn)?；九渲媚軌蜻M(jìn)行線性位移、振動(dòng)、速度和定位的測(cè)量。

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一機(jī)多能的“全棧式”光束分析儀
Building Block系列 | 一機(jī)多能的“全棧式”光束分析儀:一機(jī)多能，可同時(shí)適用于近場(chǎng)光束、聚焦光束、大光斑光束等場(chǎng)景測(cè)量！

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