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激光測量設備

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Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環
Moku:Pro_PID控制器PLL鎖相環，Moku:PID控制器的PID控制器具有四個*可配置的PID控制器，具有亞微秒的延遲。這使得它們能夠用于要求低和高反饋帶寬的應用，如激光溫度和電流穩定。通過使積分和微分控制器具有獨立的增益設置，PID控制器也可以用作超前滯后補償器。

型號：廠商性質：代理商
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Moku:Pro頻率響應分析儀
Moku:Pro頻率響應分析儀是測量被測系統頻率特性的儀器。早期頻率特性的測量是用信號源、電壓表、頻率計、相位計、示波器等單機組成，儀器操作復雜，易受干擾，測量精度低。

型號：廠商性質：代理商
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可見近紅外LED光通量顏色測量儀
可見近紅外LED光通量顏色測量儀，LED 的光度規格通常必須滿足非常高的容差要求，即使對于通用和汽車照明等非專業應用也是如此。因為 LED 的制造公差可能高于應用中允許的公差，這通常就會是一個問題。LED 制造商基于強度和顏色的分級提供的容差限制僅適用于操作條件與分級測試相似的情況。

型號：廠商性質：代理商
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X1-3紫外和藍光危害測量儀
紫外和藍光危害測量儀X1-3，”藍光危害”是指一種特定的光生物危害，與光化學誘導的眼睛內視網膜損傷的可能性有關（視網膜炎）。例如，它不關心晝夜節律的可能中斷。只有通過眼角膜并在視網膜上成像的輻射才與藍光危害評估相關。設備有適當的標準和必要的測量技術對光危害的評定可能顯得尤為重要。

型號：X1-3 廠商性質：代理商
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皮米級絕對距離測量干涉儀
皮米級絕對距離測量干涉儀通過將可調激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測量轉換為頻率變化的測量。當F-P腔長在變化時，其諧振峰的頻率也在發生變化，通過測量初始腔長，初始頻率和頻率變化，就可實現測量腔長。

型號：廠商性質：代理商
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法國Phasics中遠紅外波前傳感器/波前分析儀
法國Phasics中遠紅外波前傳感器/波前分析儀是測量光學元件和光束波前質量的一種很好的替代傳統干涉儀的方法。SID4-DWIR波前傳感器是市面上一款同時覆蓋3 - 5微米;m中紅外和8 - 14微米遠紅外的雙波段紅外高分辨率波前傳感器。它非常適合表征紅外光學器件，黑體光源，3.39微米或10.6微米激光和光學系統。

型號：廠商性質：代理商
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多波長動態干涉儀
Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態干涉儀的抗震性能。

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SID4-UHR法國Phasics波前傳感器/波前分析儀
法國Phasics波前傳感器/波前分析儀，也可提供的激光表征精度。高達512 x 512（可選高至666 x 666）相位取樣分辨率使SID4-UHR成為研究和工業領域中用于光學和激光計量的高性能工具。

型號：SID4-UHR 廠商性質：代理商
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法國Phasics短波近紅外波前傳感器
SID4-SWIR短波近紅外波前傳感器憑借其高取樣分辨率（80 x 64相位取樣點）和高靈敏度，它提供了從900 nm到1.7μm波段的精準波前測量。法國Phasics短波近紅外波前傳感器

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太赫茲掃描干涉儀
太赫茲掃描干涉儀主要用于測量窄帶太赫茲輻射的波長和強度分布，同時也可用于脈沖和連續窄帶太赫茲輻射源。TSFPI由兩個半透明平行硅鏡組成，其中一個安裝在電機驅動的線性致動器上。

型號：廠商性質：代理商
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SID4-eSWIR法國Phasics短波紅外波前傳感器
法國Phasics短波紅外波前傳感器將Phasics的四波剪切技術與T2SL探測器結合在一起，提供覆蓋1.0至2.35 µm擴展短波紅外波段的高分辨率波前傳感器。

型號：SID4-eSWIR 廠商性質：代理商
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SID4-NIR法國Phasics近紅外波前傳感器(波前分析儀)
法國Phasics近紅外波前傳感器(波前分析儀)是測量光學元件和光束波前質量的一種很好的替代傳統干涉儀的方法。SID4-NIR是一款高性價比的高分辨率波前傳感器，專門用于測量和對準1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透鏡。

型號：SID4-NIR 廠商性質：代理商
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